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氣相色譜分析中15種常見異變峰形原因解析

更新時間:2016-05-12      點(diǎn)擊次數(shù):5515

  在色譜定量分析中,出現(xiàn)色譜峰形異變或鬼峰,不但嚴(yán)重影響定量精度,甚至使分析工作無法進(jìn)行,因此我們把15種常見異變峰形原因加以分析,并給出可能原因,供色譜工作者參考。

  我們在此討論的峰形異變是指在色譜分析方法確定后,與曾經(jīng)記錄的已知色譜圖比較時,出現(xiàn)某些色譜峰形的偏離畸變或多余峰。

在懷疑峰形異變尋找可能原因、排除方法之前先做以下工作:

仔細(xì)核查操作條件,與分析方法要求是否一致;

和當(dāng)初分析所存的標(biāo)準(zhǔn)色譜圖對照,判斷是否真出了問題;

逐項仔細(xì)觀察儀器或設(shè)備工作狀態(tài),看有無操作失誤而引起的出峰失常。

然后在依據(jù)以下15種異常峰形分析可能原因與排除方法。

 

1.臺階峰

(1)TCD熱絲被樣品中所含鹵素、氧、硫等元素腐蝕;

(2)氣體流量突變?nèi)纾鹤⑸鋲|突然漏氣,氣路受阻等;

(3)記錄色譜峰裝置故障如:拉線松;

2.負(fù)峰

(1)TCD用氮做載氣,由于待測組分在N2中濃度不同,熱傳導(dǎo)值呈現(xiàn)非線性而可能 出現(xiàn)負(fù)峰,有時可以通過改變載 氣流量或進(jìn)樣量克服;

(2)操作ECD時進(jìn)樣量過大而出負(fù)峰,這是由于工作原理由電子捕獲轉(zhuǎn)變?yōu)殡婋x檢測,此時靈敏度還會大大降低;

(3)操作FID,低電離效率的溶劑(如CS2)或雜質(zhì)出現(xiàn),使原基流較高的輸出基線減小而顯示為負(fù)峰;

(4)操作FID,在無極化電壓,樣品量較大可能出現(xiàn)負(fù)峰;

(5)操縱NPD、FPD時氣流比不合適,溶劑或某些組分會出現(xiàn)負(fù)峰;

3."N" 或 “W”峰

(1)TCD操作,用N2作載氣由于熱傳導(dǎo)率非線性引起;

(2)FID操作時,樣品溶劑電離效率低(如CS2),或氣流比欠佳時;

(3)ECD操作時,由于檢測器被污染,溶劑峰或待測組分含量較高,或脈沖電源有毛?。?/span>

4.舌頭峰(前延峰)

(1)汽化溫度偏低;

(2)載氣流量小:

(3)進(jìn)樣量大,汽化時間長;

(4)汽化室被污染,樣品有吸附效應(yīng);

(5)樣品在柱頭有冷凝或色譜柱被污染;

(6)進(jìn)樣技術(shù)差(揮發(fā)性組分的進(jìn)樣速度太慢);

(7)峰前出現(xiàn)了“鬼”峰。

5.拖尾峰

(1)色譜柱安裝不合格,樣品不能以“塞子”形進(jìn)入色譜柱,柱與檢測器安裝的死體積太大;

(2)樣品未能注射入柱頭中(柱頭進(jìn)樣方式);

(3)汽化管沒有安裝好或破損,樣品只能脫尾進(jìn)入色譜柱;

(4)化室的溫度低或偏高;

(5)載氣流量偏低;

(6)進(jìn)樣量大;

(7)載氣系統(tǒng)(如注射墊處)有漏氣;

(8)進(jìn)樣器(汽化室),被樣品中高沸點(diǎn)雜質(zhì)或注射墊殘渣污染;

(9)色譜柱被污染至使被分析組分和高沸點(diǎn)污染物作用;

(10)補(bǔ)充氣未開或偏低;

(11)色譜柱溫度偏低或失效;

(12)甲烷化Ni催化劑失效;

(13)進(jìn)樣技術(shù)差(如速度不合適);

(14)正好有干擾峰(鬼峰)出現(xiàn)(如誤用被污染的注射針);

(15)無極化電壓(FID),此時伴隨靈敏度偏低;

(16)樣品前處理有毛??;

6.出峰后基線下移

(1)樣品量大,特別是溶劑改變了工作狀態(tài);

(2)FID被污染狀況發(fā)生改變,或氣流比發(fā)生變化;

(3)系統(tǒng)出現(xiàn)漏氣,或出現(xiàn)堵塞;

(4)色譜柱被污染;

(5)樣品處理不當(dāng),如:樣品中有些物質(zhì)和固定相發(fā)生作用;

7.程序升溫時基流增加(漂移大),噪聲增加

(1)色譜柱需重新老化或失效;

(2)新?lián)Q載氣純度欠佳;

(3)過濾器失效;

(4)樣品前處理不當(dāng),如:雜質(zhì)干擾物太多;

(5)靈敏度太高。

(6)數(shù)據(jù)處理裝置的判峰參數(shù)設(shè)置不合理。

8.圓頂寬峰

(1)樣品量大起出了色譜柱容量;

(2)汽化溫度低;

(3)色譜柱沒按要求安裝;

(4)檢測器工作狀態(tài)不對,如載氣太小、沒開補(bǔ)充氣;

(5)數(shù)據(jù)處理裝置的判峰參數(shù)(半峰寬)設(shè)置偏大;

9.平(未到滿量程)

(1)樣品量大,放大器量程高,衰減大,信號輸出飽和;

(2)檢測器已工作在飽和區(qū);

(3)數(shù)據(jù)處理輸入信號極性接錯,或零點(diǎn)失調(diào);

10.基線出現(xiàn)波浪狀峰

(1)高靈敏度操作儀器未穩(wěn)定之前;

(2)操作TCD、ECD時,柱箱或檢測器箱溫度周期變化;

(3)環(huán)境溫度對儀器控溫影響;

(4)電壓不穩(wěn),對柱溫控制精度影響;

(5)過溫保護(hù)設(shè)置低于控制溫度;

(6)壓力(流量)調(diào)節(jié)閥失調(diào),周期變化;

11.原來能分開的峰分不開

(1)色譜柱安裝不合要求 ;

(2)色譜柱被污染,需重新活化 ;

(3)色譜柱壽命已到,需更換;

(3)新更換的氣源,純度不佳;

(4)濾器失效,重新老化或更換;

(5)色譜柱溫度和載氣流量需要微調(diào)優(yōu)化(色譜分析一般允許);

(6)檢測器工作狀態(tài)變化(如ECD漏氣、FID氣流比欠佳);

(7)汽化室被污染,注射墊漏氣;

(8)樣品處理不當(dāng),雜質(zhì)干擾物太多;

(9)樣技術(shù)太差;

(10)進(jìn)樣量超出了色譜柱容量;

(11)數(shù)據(jù)處理的判峰參數(shù),半峰寬或斜率設(shè)置不合理;

(12)放大器量程或衰減設(shè)置失誤;

12.直角峰

(1)儀器輸出負(fù)信號超出了數(shù)據(jù)處理的范圍;

(2)數(shù)據(jù)處理裝置零點(diǎn)未校正,或量程設(shè)置太大無法判斷基線位置;

(3)數(shù)據(jù)處理裝置輸入信號極性接反,零點(diǎn)設(shè)置不對;

13.帶毛刺峰

(1)儀器工作不穩(wěn)定,噪聲大于要求;

(2)數(shù)據(jù)處理裝置的判峰參數(shù),半峰寬和斜率設(shè)置太??;

(3)極化電壓(FID)不穩(wěn);

14.操作條件未變,原來能判別的峰不見了

(1)色譜柱被污染或失效;

(2)氣路系統(tǒng)被污染(如氣源純度低,過濾器失效);

(3)注射墊漏氣;

(4)注射針密封性差;

(5)數(shù)據(jù)處理的判峰參數(shù),如:半峰寬和斜率設(shè)置偏大;

(6)進(jìn)樣方法不對;

15.“鬼峰”(怪峰,多余峰,記憶峰)

(1)上一次進(jìn)樣的高沸點(diǎn)雜質(zhì)峰自然流出;

(2)載氣不純過濾器失效使低沸點(diǎn)的污染物冷凝在色譜柱頭,程序升溫時正常流出;

(3)注射墊未經(jīng)老化或無隔墊清洗而出的污染峰;

(4)汽化溫度太高或嚴(yán)重污染至使樣品某些組分分解;

(5)樣品某些組分與被污染固定相產(chǎn)生了作用;

(6)色譜柱溫度太高固定相分解;

(7)使用了被污染的注射針( 本身不合格,手摸或進(jìn)過易污染的樣品);

(8)樣品予處理不完善或用錯溶劑;

(9)樣品中有空氣;

(10)TCD、ECD等密封性差(漏氣);

(11)電源不穩(wěn),對控溫或放大器有不良影響

(12)色譜柱堵塞物使用不當(dāng),如玻璃棉未按要求進(jìn)行處理;

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